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Process Capability Analysis by a New Process Incapability Index
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  • Process Capability Analysis by a New Process Incapability Index
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저자명
Kim. Hee-Jung,Cho. Gyo-Young
간행물명
한국데이터정보과학회지
권/호정보
2007년|18권 2호|pp.457-469 (13 pages)
발행정보
한국데이터정보과학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Process Capability Indexes(PCI) are used as the measure for evaluation of process capability analysis and is the statistical method for efficient process control. The fourth generation $PCI(C_{psk})$ is constructed from $C_{pmk}$ by introducing the factor $midmu-Tmid$ in the numerator as an extra penalty for the departure of the process mean from the preassigned target value T And Process Incapability Indexes(PII) are presented by inversing PCI and include the information of PCI. This paper introduces the PII $C_{ss}^*$ provide manager with various information of process and include Gage R&R. PII $C_{ss}^*$ is presented by inversing PCI $C_{psk}$ and include the information of PCI $C_{psk}$.