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FTIR 분광용 간섭계의 샘플링 잡음 영향 분석
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  • FTIR 분광용 간섭계의 샘플링 잡음 영향 분석
저자명
배효욱,박도현,나성웅,최승기,Bae. Hyo-Wook,Park. Do-Hyun,Ra. Sung-Woong,Choi. Seung-Ki
간행물명
電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체
권/호정보
2007년|44권 4호|pp.10-17 (8 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

FTIR 분광계는 간섭계를 사용하여 표적 물질에 대한 간섭무늬를 획득하고, 이를 푸리에 변환함으로써 기체상태 물질의 적외선 영역 스펙트럼을 획득하기 위한 유용한 기법이다. 본 논문에서는 불규칙적 위치에서 간섭무늬 샘플링에 관하여 고속 스캔 간섭계의 신호처리에서의 샘플링 노이즈 영향에 대한 연구와 이에 대하여 실험적으로 검증 하였다.

기타언어초록

FTIR(Fourier Transform Infrared) spectrometry is a useful method to obtain infrared spectra of materials in gas phase by registering the interferogram of a target material using an interferometer, and then performing a Fourier transform on the interferogram to obtain the spectrum. In this paper, sampling noise effect on signal processing of the rapid scan interferometer was studied with relation to sampling the interferogram points at the improper location and empirically verified.