본 논문에서는 최대길이 의사무작위 이진 시퀀스(m-시퀀스)의 쉬프트-덧셈 특성에 근거한 위상천이를 이용하여 회로 출력에 나타나는 X-값을 효과적으로 마스크 함으로써 내장된 자체 테스트를 실현할 수 있는 기법을 제안한다. 이 기법은 패턴생성기인 LFSR의 출력을 적절하게 위상천이 하여 마스크 패턴을 생성할 수 있는 위상천이 네트워크를 이용한다. 테스트 절차 동안에 각 스캔 체인에 인가되는 마스크 패턴의 위상 천이 수는 재구성 가능하다. LFSR의 출력을 적절하게 위상 천이하여 모든 스캔 체인 마스크 패턴을 생성할 수 있는 위상천이 네트워크 합성 알고리즘을 제안한다. 본 논문에서 제안하는 X-마스크 회로는 각 스캔 체인 마스크 패턴을 생성할 수 있는 후보 위상천이 수가 많기 때문에 하드웨어 오버헤드를 효과적으로 감축할 수 있다. 실험을 통하여 제안된 위상천이를 이용한 X-마스크 회로는 기존의 연구 결과보다 훨씬 적은 저장공간과 하드웨어 오버헤드를 필요로 함을 증명한다.
In this paper, we propose a new X-masking scheme for utilizing logic built-in self-test The new scheme exploits the phase-shifting network which is based on the shift-and-add property of maximum length pseudorandom binary sequences(m-sequences). The phase-shifting network generates mask-patterns to multiple scan chains by appropriately shifting the m-sequence of an LFSR. The number of shifts required to generate each scan chain mask pattern can be dynamically reconfigured during a test session. An iterative simulation procedure to synthesize the phase-shifting network is proposed. Because the number of candidates for phase-shifting that can generate a scan chain mask pattern are very large, the proposed X-masking scheme reduce the hardware overhead efficiently. Experimental results demonstrate that the proposed X-masking technique requires less storage and hardware overhead with the conventional methods.
