- Orientations of Polycrystalline ZnO at the Buried Interface of Oxide Thin Film Transistors (TFTs): A Grazing Incidence X-ray Diffraction Study
- Orientations of Polycrystalline ZnO at the Buried Interface of Oxide Thin Film Transistors (TFTs): A Grazing Incidence X-ray Diffraction Study
- ㆍ 저자명
- Kim. J.Y.,Ko Park. S.H.,Jeong. H.Y.,Park. C.,Choi. S.Y.,Choi. J.Y.,Han. S.H.,Yoon. T.H.
- ㆍ 간행물명
- Bulletin of the Korean Chemical Society
- ㆍ 권/호정보
- 2008년|29권 4호|pp.727-728 (2 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한화학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물|ENG| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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