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균형배열에 의해 설계되는 2-수준 Resolution-V 실험법의 직교성 평가측도
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  • 균형배열에 의해 설계되는 2-수준 Resolution-V 실험법의 직교성 평가측도
저자명
김상익,Kim. Sang-Ik
간행물명
한국통계학회 논문집
권/호정보
2008년|15권 2호|pp.235-244 (10 pages)
발행정보
한국통계학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

실험계획의 요인배치법에서 부분실험을 설계할 때, 직교배열을 이용한 실험설계방법이 널리 사용된다. 그러나 부분실험의 해상도(resolution)가 큰 경우, 직교배열을 일반화한 균형배열이 효과적으로 사용될 수 있다. 특히 2-수준 요인실험법에서는 강도(strength)가 4인 균형배 열은 resolution-V인 부분실험법과 동일하다는 것이 알려져 있다. 본 연구에서는 강도(strength)가 4인 균형배열의 직교성을 평가하는 측도를 제시하고자 한다. 그리고 본 연구에서 제시된 평가측도를 응용하여 실험횟수가 가장 적고 직교성에 가까운 최소 균형 resolution-V 부분실험법의 설계방법을 제시하고자 한다.

기타언어초록

Balanced arrays which are generalized orthogonal arrays, introduced by Chakravarti (1956) can be used to construct the fractional factorial designs. Especially for 2-level factorials, balanced arrays with strength 4 are identical to the resolution-V fractional designs. In this paper criteria for evaluation the degree of the orthogonality of balanced arrays of 2-levels with strength 4 are developed and some application methods of the suggested criteria are discussed. As a result, in this paper, we introduce the constructing methods of near orthogonal saturated balanced resolution-V fractional 2-level factorial designs.