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Investigation of Frequency Dependent Sensitivity of Noise Figure on Device Parameters in 65 nm CMOS
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  • Investigation of Frequency Dependent Sensitivity of Noise Figure on Device Parameters in 65 nm CMOS
  • Investigation of Frequency Dependent Sensitivity of Noise Figure on Device Parameters in 65 nm CMOS
저자명
Koo. Min-Suk,Jung. Hak-Chul,Jhon. Hee-Sauk,Park. Byung-Gook,Lee. Jong-Duk,Shin. Hyung-Cheol
간행물명
Journal of semiconductor technology and science
권/호정보
2009년|9권 1호|pp.61-66 (6 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

We have investigated the noise sensitivity of low noise amplifier (LNA) at different frequency. This noise sensitivity analysis provides insights about noise parameters and it is very beneficial for making appropriate design trade-offs. From this work, the circuit designer can choose the adequate noise parameters tolerances.