본 논문에서는 아날로그 및 디지털 집적시스템에서 사용될 수 있는 온도변화에 무관한 파워-업 검출기 회로를 제안하였다. 제안된 파워-업 검출기는 트랜지스터의 문턱전압과 이동도의 상호 온도보상 기술을 이용하여 nMOS 분압기와 pMOS 분압기의 출력 전압이 온도에 무관한 특성을 갖도록 하여 온도 변화에 따른 파워-업 전압의 변화량을 최소화하였다. 68-nm CMOS 공정을 이용한 시뮬레이션 결과, 제안된 파워-업 검출기는 파워-업 전압 1.0V 기준으로 $-30^{circ}C$에서 $90^{circ}C$의 온도변화 조건에서 4 mV의 매우 작은 파워-업 감지 전압 변화량을 갖는 출력 특성을 보였고, 기존 회로에 비해 92.6%의 파워-업 감지 전압 변화량 감소를 확인하였다.
In this paper, a temperature variation-insensitive power-up detector for use in analog and digital integrated systems has been proposed. To provide temperature-insensitive characteristic, nMOS and pMOS voltage dividers in the proposed power-up detector are made to have zero temperature coefficient by exploiting the fact that the effective gate-source voltage of a MOS transistor can result in mutual compensation of mobility and threshold voltage for temperature independency. Comparison results using a 68-nm CMOS process indicate that the proposed power-up detector achieves as small as 4 mV voltage variation at 1.0 V power-up voltage over a temperature range of $-30^{circ}C$ to $90^{circ}C$, resulting in 92.6% reduction on power-up voltage variations over conventional power-up detectors.
