낸드 플래시 메모리는 블록에 새로운 데이터를 쓰고자 할 때 삭제 연산이 선행되어야 하며 일정 횟수 이상 지움 연산이 반복된 블록은 더 이상 사용이 불가능하다. 데이터의 갱신이 빈번한 핫 데이터는 블록을 빠르게 사용 불가능한 상태에 도달하게 만들 수 있고 이로써 낸드 플래시 메모리의 용량은 시간이 지남에 따라 감소할 수 있다. 본 논문에서는 데이터의 접근 패턴을 고려해 핫 데이터와 콜드 데이터를 분류하는 알고리즘을 제시한다. 이렇게 분류된 데이터 정보를 이용해 삭제 횟수가 많은 블록에 갱신 확률이 적은 콜드 데이터를, 삭제 횟수가 상대적으로 적은 블록에 갱신 확률이 높은 핫 데이터를 맵핑한다. 입력 데이터 패턴을 이용한 핫/콜드 데이터 분류 기법이 기존의 분류 기법을 사용했을 때보다 플래시 메모리의 블록 사용이 균일한 것을 실험을 통해 확인하였다.
In the case of NAND flash memory, a whole block needs to be erased for update operations because update-in- place operations are not supported in NAND flash memory. Blocks of NAND flash memory have the limited erasure cycles, so frequently updated data (hot data) easily makes blocks worn out. As the result, the capacity of NAND flash memory will be reduced by hot data. In this paper, we propose a wear-leveling algorithm by discriminating hot and cold data based on the update patterns of data. When we applied this scheme to NAND flash memory, we confirmed that the erase counts of blocks became more uniform by mapping hot data to a block with a low erase count and cold data to block with a high erase count.
