- Evaluation of Microscopic Degradation of Copper and Copper Alloy by Electrical Resistivity Measurement
- Evaluation of Microscopic Degradation of Copper and Copper Alloy by Electrical Resistivity Measurement
- ㆍ 저자명
- 김정석,남승훈,현창용,Kim. Chung-Seok,Nahm. Seung-Hoon,Hyun. Chang-Young
- ㆍ 간행물명
- 비파괴검사학회지
- ㆍ 권/호정보
- 2010년|30권 5호|pp.444-450 (7 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국비파괴검사학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물|ENG| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
