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Test and Error Parameter Estimation for MEMS - Based Low Cost IMU Calibration
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  • Test and Error Parameter Estimation for MEMS - Based Low Cost IMU Calibration
  • Test and Error Parameter Estimation for MEMS - Based Low Cost IMU Calibration
저자명
Lee. Dong-Kyu,Lee. Sang-Chul,Park. Sang-Hyuk,Ko. Sang-Ho
간행물명
International journal of precision engineering and manufacturing
권/호정보
2011년|12권 4호|pp.597-603 (7 pages)
발행정보
한국정밀공학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

A new method is presented to calibrate a low-quality, MEMS-based Inertial Measurement Unit (IMU). The proposed method consists of a novel dynamic test-setup with a combination of a single-axis rate-table and an attitude change mount, to overcome the limitations in the conventional calibrations with the static or quasi-static test-setups. A Fourier Transform method is deployed in the proposed scheme to estimate the error parameters including bias, scale factor, and misalignment of the accelerometers and rate gyros. Compared to the commonly used Recursive Least Squares method, the Fourier Transform method is more efficient in terms of the computation time, yet it resulted in comparable or improved results in the series of verification tests in this study.