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Cr-SrTiO3 박막을 이용한 Si 기반 1D 형태 저항 변화 메모리의 전류-전압 특성 고찰
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  • Cr-SrTiO3 박막을 이용한 Si 기반 1D 형태 저항 변화 메모리의 전류-전압 특성 고찰
저자명
송민영,서유정,김연수,김희동,안호명,김태근,Song. Min-Yeong,Seo. Yu-Jeong,Kim. Yeon-Soo,Kim. Hee-Dong,An. Ho-Myoung,Kim. Tae-Geun
간행물명
전기전자재료학회논문지
권/호정보
2011년|24권 11호|pp.855-858 (4 pages)
발행정보
한국전기전자재료학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

In this paper, in order to suppress unwanted current paths originating from adjacent cells in a passive crossbar array based on resistive random access memory (RRAM) without extrinsic switching devices, 1-diode type RRAM which consists of a 0.2% chromium-doped strontium titanate (Cr-$SrTiO_3$) film deposited on a silicon substrate, was proposed for high packing density, and intrinsic rectifying characteristics from the current versus voltage characteristics were successfully demonstrated.