- 전자기기의 시장환경조건과 신뢰성시험
- ㆍ 저자명
- 김근수,Kim. Keun-Soo
- ㆍ 간행물명
- 마이크로전자 및 패키징 학회지
- ㆍ 권/호정보
- 2012년|19권 4호|pp.1-5 (5 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국마이크로전자및패키징학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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The quality and performance of electronic parts and equipment are affected by various types of stresses. Thermal stress caused by changes in the ambient usage environment and mechanical stress from vibration shock during transportation can degrade both quality and performance. This paper gives an overview about recent researches for measuring market environmental conditions of electronic equipments.