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생존곡선을 활용한 잔존 인용특허 수명 추정에 관한 연구
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  • 생존곡선을 활용한 잔존 인용특허 수명 추정에 관한 연구
저자명
전승표,박현우,유재영,Jun. Seung-Pyo,Park. Hyun-Woo,Yoo. Jae Young
간행물명
기술혁신학회지
권/호정보
2012년|15권 4호|pp.745-765 (21 pages)
발행정보
한국기술혁신학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

기술가치평가에서 수익접근법을 사용하고자 할 경우 기술의 경제적 수명을 추정하기 위해 기술수명을 파악하는 것은 필수적이다. 2000년대 중반부터 현재까지 국내 주요기관에서 기술의 경제적 수명을 추정하기 위해 제안된 방법들은 기술수명의 한 종류인 인용특허 수명(CLT)을 기반으로 하고 있다. 본 연구는 기술가치평가를 위한 기술의 경제적 수명 추정에 있어 인용특허 수명을 활용하는데, 그 동안 간과되어 왔던 경과기간과 사업화 투자기간의 반영 방법을 개선할 수 있는 새로운 인용특허 수명 분석 방법을 제안하고자 한다. 본 연구는 이미 유형자산의 경제적 수명 추정에서 활발히 활용되고 있는 생존곡선 분석 방법을 인용특허 수명 지수 산출에도 적용함으로써 보다 객관적인 기술수명을 산출할 수 있는 방법을 제공했다. 또한 경과년수별로 인용특허 수명의 잔존 기대 수명을 산출해, 특정 경과년수에 다다른 기술의 기대 수명들을 산출하고 잔존 인용특허 수명(r-CLT)이라고 명명했다.

기타언어초록

When attempting to use the income approach for the purpose of technology valuation, it is essential to identify the economic life of the technology in question. From the mid-2000s up to the present, the methods proposed by major Korean institutions for estimating the economic life of technologies have been based on cited patent life (CLT), which is one of the types of technology life. The present study utilizes cited patent life (CLT) to estimate the economic life of technology for the purpose of technology valuation, and proposes a new method of analyzing cited patent life, a method that has been improved by taking into consideration the elapsed period and the time period of investment required for commercialization, two factors which have been hitherto overlooked. Survival curve analysis is a method that has already been widely utilized to estimate the economic life of tangible assets, and this study applies the same method to the calculation of the cited patent life index of technology to provide a more objective method for determining the lifetime of a technology. The remaining life expectancy of cited patent life based on the number of elapsed years was calculated and used to determine the life expectancy of a technology that has reached a specific number of elapsed years, which is referred to as the remaining cited-patent life time (r-CLT).