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SF6/O2 혼합가스에 의한 실리콘 웨이퍼의 표면 텍스쳐링 특성
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  • SF6/O2 혼합가스에 의한 실리콘 웨이퍼의 표면 텍스쳐링 특성
저자명
강민석,주성재,구상모,Kang. Min-Seok,Joo. Sung-Jae,Koo. Sang-Mo
간행물명
전기전자재료학회논문지
권/호정보
2012년|25권 5호|pp.345-348 (4 pages)
발행정보
한국전기전자재료학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

The optical losses associated with the reflectance of incident radiation are among the most important factors limiting the efficiency of a solar cell. Therefore, photovoltaic cells normally require special surface structures or materials, which can reduce reflectance. In this study, nano-scale textured structures with anti-reflection properties were successfully formed on silicon. The surface of sicon wafer was etched by the inductively coupled plasma process using the gaseous mixture of $SF_6+O_2$. We demonstrate that the reflection characteristic has significantly reduced by ~0% compared with the flat surface. As a result, the power efficiency $P_{max}$ of the nano-scale textured silicon solar cell were enhanced up to 20%, which can be ascribed primarily to the improved light trapping in the proposed nano-scale texturing.