- Non-Destructive Evaluation of Material Properties of Nanoscale Thin-Films Using Ultrafast Optical Pump-Probe Methods
- Non-Destructive Evaluation of Material Properties of Nanoscale Thin-Films Using Ultrafast Optical Pump-Probe Methods
- ㆍ 저자명
- Kim. Yun-Young,Krishnaswamy. Sridhar
- ㆍ 간행물명
- 비파괴검사학회지
- ㆍ 권/호정보
- 2012년|32권 2호|pp.115-121 (7 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국비파괴검사학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물|ENG| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
