RSA-CRT는 RSA전자서명 알고리즘의 고속화 구현을 위해 가장 많이 사용되고 있는 알고리즘으로, 스마트디바이스에 사용되는 RSA-CRT 알고리즘의 물리적 취약성 검증을 위해 CRT의 각 단계 연산에서 다양한 부채널 분석 이론이 발표되어 왔다. 본 논문에서는 RSA-CRT 구현에 사용되는 뺄셈연산의 이벤트 정보를 활용하여 RSA-CRT의 reduction알고리즘을 분석하는 새로운 SAED(Subtraction algorithm Analysis on Equidistant Data)분석 방법을 제안한다. SAED분석 방법은 알고리즘에 의존한 전력 변화를 이용한 분석 방법이며, 뺄셈 연산을 차분전력분석 방법으로 분석하여 키를 찾아낸다. 본 논문은 SAED분석 방법의 이론적인 합리성을 증명하고, 실험적으로 기존의 분석 방법보다 향상된 결과를 가짐을 보인다. 실험 결과 256개의 파형만으로 하나의 바이트를 분석해 낼 수 있어, 기존 논문보다 효율적인 분석 방법임을 확인 할 수 있었다.
RSA-CRT is a widely used algorithm that provides high performance implementation of the RSA-signature algorithm. Many previous studies on each operation step have been published to verify the physical leakages of RSA-CRT when used in smart devices. This paper proposes SAED (subtraction algorithm analysis on equidistant data), which extracts sensitive information using the event information of the subtraction operation in a reduction algorithm. SAED is an attack method that uses algorithm-dependent power signal changes. An adversary can extract a key using differential power analysis (DPA) of the subtraction operation. This paper indicates the theoretical rationality of SAED, and shows that its results are better than those of other methods. According to our experiments, only 256 power traces are sufficient to acquire one block of data. We verify that this method is more efficient than those proposed in previously published studies.
