- 다중 정상 하에서 단일 클래스 분류기법을 이용한 이상치 탐지 : TFT-LCD 공정 사례
- ㆍ 저자명
- 주태우,김성범,Joo. Tae Woo,Kim. Seoung Bum
- ㆍ 간행물명
- 대한산업공학회지
- ㆍ 권/호정보
- 2013년|39권 2호|pp.82-89 (8 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한산업공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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Novelty detection (ND) is an effective technique that can be used to determine whether a future observation is normal or not. In the present study we propose a novelty detection algorithm that can handle a situation where the distributions of target (normal) observations are inhomogeneous. A simulation study and a real case with the TFT-LCD process demonstrated the effectiveness and usefulness of the proposed algorithm.