기존 소프트웨어 테스팅 기법은 개발자가 수동으로 테스트 케이스를 작성해야 하는 비효율성으로 인해 임베디드 소프트웨어의 안정성 확보에 어려움이 있다. Concolic 테스팅 기법은 자동으로 소프트웨어 테스트 케이스를 생성함으로써 기존 소프트웨어 테스팅 기법의 문제를 해결했지만, 임베디드 소프트웨어 테스트에 필수적인 bitwise 연산을 지원하지 않는 문제가 있었다. 본 논문에서는 임베디드 소프트웨어를 위해 bitwise 연산을 지원하는 Concolic 테스팅 개선 방법을 연구하고 오픈 소스 임베디드 소프트웨어 Busybox에 적용하여 기존 연구와 분기 커비리지 및 실행 속도를 비교하였다. Busybox의 10개 유틸리티에 적용한 결과 기존 연구 결과 대비 평균 33%의 분기 커버리지 향상이 있었다. 또한, CREST-BV의 성능 저하 원인을 분석하였다.
Conventional testing methods often fail to assure reliability of embedded software due to inefficiency and ineffectiveness of manual test case generation. Concolic testing can address this by automatically generating test cases but has a limitation that does not support bitwise operations critical to embedded software. To address this limitation, we have developed an improved concolic testing technique with bitwise operations support for embedded software. We applied the improved technique to 10 utilities of open-source embedded software Busybox and achieved 33% more branch coverage on average. In addition, we analyzed the performance bottleneck of the improved technique.
