본 논문에서는 디지털 논리회로의 스캔(scan) 방식에 기초한 효율적인 테스터블(testable) 스캔 셀(cell)을 제안하며 타이밍과 관련된 지연고장(delay fault)을 검출하기 위한 Mux-based 스캔 셀 설계와 테스트방식을 제안한다. 이로 인해 설계와 검증 시 소요되는 테스트 시간과 비용을 단축하고, LOC(Launch-off-Capture)와 LOS(Launch-off-Shift)방식의 지연고장 테스트 방안도 제안한다. 제안된 테스트방식은 스캔 입력에서 거리가 먼 마지막 스캔 셀까지의 전역 제어신호(global control signal)가 늦게 도달하는 문제점을 클럭(clock) 신호를 이용하여 동기화시킴으로써 보다 빠르게 구동시켜 고속의 테스트가 가능하다. 또한, 테스트 벡터 입력 시 대상회로의 논리 값 인가를 차단하여 테스트 벡터 입력동안의 스캔 전력소모를 효과적으로 줄이도록 한다. 스캔 셀 설계의 논리 동작과 타이밍 시뮬레이션을 통해 제안된 방식의 동작을 증명 한다.
The New efficient Mux-based scan latch cell design and scan test of LOS/LOC modes are proposed for detection of delay faults in digital logic circuits. The proposed scan cell design can support LOS(Launch-off-Shift) and LOC(Launch-off-Capture) tests with high fault coverage and low scan power and it can alleviate the problem of the slow selector enable signal and hold signal by supporting the logic capable of switching at the operational clock speeds. Also, it efficiently controls the power dissipation of the scan cell design during scan testing. Functional operation and timing simulation waveform for proposed scan hold cell design shows improvement in at-speed test timing in both test modes.
