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Analysis of Tunnelling Rate Effect on Single Electron Transistor
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  • Analysis of Tunnelling Rate Effect on Single Electron Transistor
  • Analysis of Tunnelling Rate Effect on Single Electron Transistor
저자명
Sheela. L.,Balamurugan. N.B.,Sudha. S.,Jasmine. J.
간행물명
Journal of electrical engineering & technology
권/호정보
2014년|9권 5호|pp.1670-1676 (7 pages)
발행정보
대한전기학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

This paper presents the modeling of Single Electron Transistor (SET) based on Physical model of a device and its equivalent circuit. The physical model is derived from Schrodinger equation. The wave function of the electrode is calculated using Hartree-Fock method and the quantum dot calculation is obtained from WKB approximation. The resulting wave functions are used to compute tunneling rates. From the tunneling rate the current is calculated. The equivalent circuit model discuss about the effect of capacitance on tunneling probability and free energy change. The parameters of equivalent circuit are extracted and optimized using genetic algorithm. The effect of tunneling probability, temperature variation effect on tunneling rate, coulomb blockade effect and current voltage characteristics are discussed.