탭 딜레이(tapped delay) 방식은 field-programmable gate arrary(FPGA) 내부 리소스를 이용한 설계에 적합하여 FPGA기반 시간-디지털 변환기(time-to-digital converter)로 널리 사용되고 있다. 그런데 이 방식의 시간-디지털 변환기에서는 지연 소자로 사용하는 전용 캐리체인(dedicated carry chain)의 탭 당 지연시간 차이가 정밀도 저하의 가장 큰 원인이 되고 있다. 본 논문에서는 일반적인 구형파 대신 고정된 시간 폭을 가지는 펄스신호를 지연 소자로 인가하고 상승과 하강 엣지에서 두 번의 시간 측정을 통해 전용 캐리체인내 지연시간의 불균일성을 보상하고 정밀도를 향상하는 시간-디지털 변환기 구조를 제안한다. 제안한 구조는 두 번의 시간 측정을 위해 2개 구역의 전용 캐리체인을 필요로 한다. Dual 엣지 보상 전 두 전용 캐리체인에서 탭 당 지연시간의 평균은 각각 17.3 ps, 16.7 ps에서 보상 후 평균은 11.2 ps, 10.1 ps으로 감소하여 각각 35%, 39% 이상 향상되었다. 가장 중요한 탭 당 최대지연 시간은 41.4 ps, 42.1 ps에서 20.1 ps, 20.8 ps 로 50% 이상 감소하였다.
A tapped delay line time-to-digital converter (TDC) can be easily implemented using internal carry chains in a field-programmable gate array, and hence, its use is widespread. However, the tapped delay line TDC suffers from performance degradation because of differences in the delay times of dedicated carry chains. In this paper, a dual edge measurement method is proposed instead of a typical step signal to the delay cell to compensate for the performance degradation caused by wide-delay cells in carry chains. By applying a pulse of a fixed width as an input to the carry chains and using the time information between the up and down edges of the signal pulse, the timing accuracy can be increased. Two dedicated carry chain sites are required for the dual edge measurements. By adopting the proposed dual edge measurement method, the average delay widths of the two carry chains were improved by more than 35%, from 17.3 ps and 16.7 ps to 11.2 ps and 10.1 ps, respectively. In addition, the maximum delay times were improved from 41.4 ps and 42.1 ps to 20.1 ps and 20.8 ps, respectively.
