Principle of Field Emission-Scanning Electron Microscopy(FE-SEM) and its Application to the Analysis of Carbon Nanostructures

Principle of Field Emission-Scanning Electron Microscopy(FE-SEM) and its Application to the Analysis of Carbon Nanostructures

ㆍ 저자명: Young Jeon Kim,Chomg Rae Park
ㆍ 간행물명: Carbon LettersKCI
ㆍ 권/호정보: 2001년|2권 3호(통권6호)|pp.202-211 (10 pages)
ㆍ 발행정보: 한국탄소학회|한국
ㆍ 파일정보: 정기간행물|ENG|
PDF텍스트(0.67MB)
ㆍ 주제분야: 자연과학

서지반출

영문초록

최근 들어 탄소나튜브를 필두로 하는 나노 산소재에 대한 관심이 중대되면서 나노 스케일에서의 구조와 물리적 성질간의 상관성에 대한 연구가 급증하고 있다. 전자현미경은 이러한 나노 수준에서의 구조를 파악하는데 있어 없어서는 안될 기기이며 특히, 전게 방출형 주사전자형미경은 소재의 표면구조를 나노 수준까지 조사할 수 있는 아주 유효한 수다으로 알려져 있다.

영문초록

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