- CMOS Complex Gates의 테스트 생성 알고리즘
- ㆍ 저자명
- 조상복,임인칠
- ㆍ 간행물명
- 電子工學會誌
- ㆍ 권/호정보
- 1984년|21권 5호|pp.55-60 (6 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전자공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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CMOS기술의 발전에 따라 디지탈 회로를 실현하는데 complex gate 구조를 많이 사용하게 되었다. CMOS complex gate에 대해 내부 게이트 응답과 unknown state등을 고려하여 모든 stuck-open(이하 s-op)과 stuck-on(이하 s-on) 고장을 검출할 수 있는 새로운 테스트 생성 알고리즘이 제소되었다 이 알고리즘은 minimal하고 complete한 테스트 집합을 구할 수 있게 해준다. 또한, 임의의 CMOS complex gate 회로에 대해 본 알고리즘을 적용시켜, 컴퓨터를 통해 그와 같은 테스트 집합이 구해짐을 입증하였다.
With the advancement of CMOS technology, it has become attractive to employ complex gate structures in realizing digital circuits. A new test generation algorithm for CMOS complex gates to detect all stuck-open and stuck-on faults considering internal gate response and unknown state is proposed. Minimal and complete set can be derived by this algorithm. Also, it is verified that such a test set is generated applying this algorithm to arbitrary CMOS complex gates by computer.