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전자장치용 Passivation 유리의 결정화에 관한 연구
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  • 전자장치용 Passivation 유리의 결정화에 관한 연구
저자명
손명모,박희찬,이헌수
간행물명
요업학회지
권/호정보
1993년|30권 2호|pp.107-114 (8 pages)
발행정보
한국세라믹학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Zinc-Borosilicate(ZnO 65.0wt%, B2O3 21.5wt%, SiO2 9.0wt%, PbO or tiO2 4wt%) passivation glasses were studied using differential thermal analysis(DTA), scanning electron microscopy(SEM) observations, X-ray diffraction (XRD) patterns and measurement of thermal expansion coefficients. Passivation glasses containing 4wt% TiO2 and 4wt% PbO had crystallization temperature of 680~73$0^{circ}C$ and major crystalline phases were identified by X-ray diffraction as $alpha$-ZnO.B2O3 and $alpha$-5ZnO.2B2O3. As increasing firing temperature, the size of crystalline phases increased by observation of SEM. The thermal expansion coefficient of crystallized glass frits was smaller than that of unfired glass.