- CHARACTERIXATION OF PLASMA ION IMPLANTED SURFACES USING TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMATRY
- CHARACTERIXATION OF PLASMA ION IMPLANTED SURFACES USING TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMATRY
- ㆍ 저자명
- Lee. Yeon-Hee,Han. Seung-Hee,Lee. Jung-Hye,Yoon. Jung-Hyeon
- ㆍ 간행물명
- 한국표면공학회지
- ㆍ 권/호정보
- 1996년|29권 6호|pp.880-883 (4 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국표면공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물|ENG| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
