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어레이 접지전압 조정에 의한 저전력, 고성능 내장형 SRAM 회로 기술
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  • 어레이 접지전압 조정에 의한 저전력, 고성능 내장형 SRAM 회로 기술
  • Low power-high performance embedded SRAM circuit techniques with enhanced array ground potential
저자명
정경아,손일헌
간행물명
電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. C
권/호정보
1998년|2호|pp.36-47 (12 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Low power circuit techniques have been developed to realize the highest possible performance of embedded SRAM at 1V power supply with$0.5mu extrm{m}$ single threshold CMOS technology in which the unbalance between NMOS and PMOS threshold voltages is utilized to optimize the low power CMOS IC design. To achieve the best trade-off between the transistor drivability and the subthreshold current increase, the ground potential of memory array is raised to suppressthe subthreshold current. The problems of lower cellstability and bit-line dealy increase due to the enhanced array ground potential are evaluated to be controlled within the allowable range by careful circuit design. 160MHz, 128kb embedded SRAM with 3.4ns access time is demonstrated with the power consumption of 14.8mW in active $21.4{mu}W$ in standby mode at 1V power supply.