고밀도 AWG (Arrayed-Waveguide Grating)의 광 경로차 에러를 정확히 측정하기 위하여 개선된 형태의 저간섭 광원 간섭계를 구성하였고, 새로운 해석방법을 제시하였다. 소프트웨어적인 방법을 이용하여 하드웨어면에서 실험장치를 간략화할 수 있었다. 또한 인접 간섭신호들 사이의 실제 피크 위치 차이를 보간법을 이용하여 정확히 측정할 수 있다. 특정 AWG의 위상 에러를 측정하였고, 이 에러를 가정하여 계산한 파장 투과 특성이 실제 AWG의 파장투과 특성과 유사함을 보임으로써, 제시한 측정 장치의 정확성을 입증하였다.
An improved low coherence interferometer system and a new analysis method for the accurate measurement of the optical path difference error of an AWG (Arrayed-Waveguide Grating) are described. The use of software simplifies the experimental setup by eliminating the hardware (clock generator). In addition, the actual distances between the peak positions of the adjacent interference signals are calculated using interpolation methods. The wavelength transmission characteristics of the AWG are calculated assuming the measured phase errors. The calculated AWG characteristic is quite similar to the actual measurement result, confirming accuracy of the proposed measurement setup.
