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온도변화에 따른 LDMOS의 전류변동 억제에 관한 연구
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  • 온도변화에 따른 LDMOS의 전류변동 억제에 관한 연구
저자명
전중성,Jeon. Joong-Sung
간행물명
한국마린엔지니어링학회지
권/호정보
2006년|30권 8호|pp.901-906 (6 pages)
발행정보
한국마린엔지니어링학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

In this paper, the power amplifier using active bias circuits for LDMOS(Lateral Diffused Metal Oxide Semiconductor) MRF-21180 is designed and fabricated. According to change the temperature, the gate voltage of LDMOS is controlled by the fabricated active bias circuits which is made of PNP transistor to suppress drain current. The driving amplifier using MRF-21125 and MRF-21060 is made to drive the LDMOS MRF-21180 power amplifier. The variation of current consumption in the fabricated 60 watt power amplifier has an excellent characteristics of less than 0.1 A, whereas a passive biasing circuit dissipates more than 0.5 A. The implemented power amplifier has the gain over 9 dB, the gain flatness of less than $pm$0.1 dB and input and output return loss of less than -6 dB over the frequency range 2.11 $sim$ 2.17 GHz. The DC operation point of this power amplifier at temperature variation 0 $^{circ}C$ to 60 $^{circ}C$ is fixed by active bias circuit.