Advanced Microcontroller Bus Architecture (AMBA) 기반 System-on-Chip (SoC)에서는 기능적 테스트를 위해 ARM사의 Test Interface Controller (TIC)를 사용한다. 따라서 구조적 스캔 테스트 패턴도 TIC와 AMBA 버스를 통해 인가하면서 스캔입력과 출력을 동시에 수행할 수 없다는 단점이 있다. 본 논문에서는 ARM 코어를 사용하는 SoC 테스트를 위한 AMBA based Test Access Mechanism (ATAM)을 제안한다. 기존 TIC와의 호환성을 유지하고 스캔 입력과 출력을 동시에 할 수 있으므로 고가의 Automatic Test Equipment (ATE)를 통한 테스트 시간을 대폭 절감할 수 있다.
Test Interface Controller (TIC) provided by ARM Ltd. is widely used for functional testing of System-on-Chip (SoC) adopting Advanced Microcontroller Bus Architecture (AMBA) bus system. Accordingly, this architecture has a deficiency of not being able to concurrently shifting in and out the structural scan test patterns through the TIC and AMBA bus. This paper introduces a new AMBA based Test Access Mechanism (ATAM) for speedy testing of SoCs embedding ARM cores. While preserving the compatability with the ARM TIC, since scan in and out operations can be performed simultaneously, test application time through the expensive Automatic Test Equipment (ATE) can be drastically reduced.
