급격한 공정 기술의 발전과 새로운 소재의 도입은 공정 제어를 어렵게 할 뿐만 아니라, 공정 편차를 증가시킨다. 이러한 공정 편차는 레이아웃상의 데이타와 실제 웨이퍼 상의 데이타간의 차이를 유발시킴으로써, 설계자가 원하는 성능을 갖는 회로를 구현하는데 많은 장애가 되고 있다. 따라서, 본 논문은 공정 편차가 회로의 특성에 미치는 영향을 $0.13{mu}m$ 이하의 설계에 반영 할 수 있도록 배선의 worstcase를 정확하고 빠르게 결정할 수 있는 새로운 설계 환경을 구현하였다. 이를 위하여 Common Geometry와 Maximum Probability 기법을 개발하였으며, 이들을 기반으로 새로운 worstcase 최적화 알고리즘을 제안하였다. 본 논문께서 제안된 알고리즘의 정확성 검증은 UMC $0.13{mu}m$ Logic 공정을 사용하여 제작된 31단 Ring Oscillator의 시간 지연(Delay time)을 측정값과 비교하였다. 검증 결과, 제안된 알고리즘을 사용하여 worstcase 최적화를 할 경우, 신호선 위에 도선이 있는 경우와 없는 경우 모두 상대 오차가 1.0% 내외로 기존의 optimizer를 사용한 경우에 비하여 두배이상 정확함을 알 수 있었다. 또한, 새로운 worstcase 설계 환경을 사용하여 최적화한 경우, 기존의 optimizer를 사용하여 최적화한 경우에 비하여 worstcase 최적화 속도가 약 32.01% 단축되었음을 확인하였다. 더불어, 기존의 방법으로 정확한 시뮬레이션이 어려웠던 비정규분포를 갖는 경우에 대해서도 정확한 worstcase를 예측함을 확인하였다.
The rapid development of process technology and the introduction of new materials not only make it difficult for process control but also as a result increase process variations. These process variations are barriers to successful implementation of design circuits because there are disparities between data on layout and that on wafer. This paper proposes a new design environment to determine the interconnect worstcase with accuracy and speed so that the interconnect effects due to process-induced variations can be applied to designs of $0.13{mu}m$ and below. Common Geometry and Maximum Probability methods have been developed and integrated into the new worstcase optimization algorithm. The delay time of the 31-stage Ring Oscillator, manufactured in UMC $0.13{mu}m$ Logic, was measured, and the results proved the accuracy of the algorithm. When the algorithm was used to optimize worstcase determination, the relative error was less than 1.00%, two times more accurate than the conventional methods. Furthermore, the new worstcase design environment improved optimization speed by 32.01% compared to that of conventional worstcase optimizers. Moreover, the new worstcitse design environment accurately predicted the worstcase of non-normal distribution which conventional methods cannot do well.
