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A Comparison of Friction Force Calibration in Lateral Force Microscope
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  • A Comparison of Friction Force Calibration in Lateral Force Microscope
  • A Comparison of Friction Force Calibration in Lateral Force Microscope
저자명
Wang. Yuli-Ang,Kim. Hong-Joon,Kong. Ho-Sung,Zhao. Xu-Zheng,Yoon. Eui-Sung
간행물명
KSTLE international journal
권/호정보
2006년|7권 1호|pp.5-9 (5 pages)
발행정보
한국윤활학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

The main principle of two widely used methods which were proposed by Ruan and Bhushan, and by Ogletree and Carpick are introduced. Experiments were conducted using the two methods to measure friction force between AFM probe and silicon sample quantitatively. To characterize the frictional properties, the conversion factors of the two methods by which lateral electronic signal is converted into actual friction force were calculated. The experimental results show that that the conversion factors were extraordinarily different from each other. Further research should be done to identity the reasons for these differences.