- 사이리스터 소자의 수명예측을 위한 열화진단기술
- ㆍ 저자명
- 김병철,김형우,서길수,Kim. Byung-Cheul,Kim. Hyoung-Woo,Seo. Kil-Soo
- ㆍ 간행물명
- 전기전자재료학회논문지
- ㆍ 권/호정보
- 2007년|20권 3호|pp.197-201 (5 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국전기전자재료학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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The accelerated aging test equipment which is possible to apply voltage and temperature at the same time, is fabricated to predict lifetime of high capacity thyristor in short time. The variations of the forward/reverse breakdown voltage and the leakage current are investigated as an aging diagnostic tool. Lifetimes of the devices which are predicted from the reverse breakdown voltage with an accelerated aging time, have shown 3-15 years.