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Defect Analysis via Photoluminescence of p-type ZnO:N Thin Film fabricated by RF Magnetron Sputtering
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  • Defect Analysis via Photoluminescence of p-type ZnO:N Thin Film fabricated by RF Magnetron Sputtering
  • Defect Analysis via Photoluminescence of p-type ZnO:N Thin Film fabricated by RF Magnetron Sputtering
저자명
Jin. Hu-Jie,So. Soon-Jin,Park. Choon-Bae
간행물명
전기전자재료학회논문지
권/호정보
2007년|20권 3호|pp.202-206 (5 pages)
발행정보
한국전기전자재료학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

ZnO is a promising material to make high efficient ultraviolet(UV) or blue light emitting diodes(LEDs) because of its large binding energy and energy bandgap. In this study, we prepared ZnO thin films with p-type conductivity on silicon(100) substrates by RF magnetron sputtering in the mixture of $N_2$ and $O_2$. The process was accompanied by low pressure in-situ annealing in $O_2$ at $600^{circ}C$ and $800^{circ}C$ respectively. Hall effect in Van der Pauw configuration showed that the N-doped ZnO film annealed at $800^{circ}C$ has p-type conductivity. Photoluminescence(PL) spectrum of the film annealed at $800^{circ}C$ showed UV emission related to exciton and bound to donor-acceptor pair(DAP) as well as visible emission related to many intrinsic defects.