본 논문에서는 시스템 모듈에서 발생하는 EMI를 줄이기 위해 분할된 전원/접지 평판 구조에 의해 발생하는 방사성 방출(Radiated emission)을 분석하였다. 분석을 위해 다양한 조건을 갖는 시험 기판(Test board)에 대한 자기장과 전기장을 시뮬레이션하고 측정하여 비교하였다. 이 분석 결과는 입력 신호의 주파수 대역에서 반사계수의 위상이 $0^{circ}$에 근접하도록 하며, 입력 신호의 주파수와 분할된 전원/접지 평판 구조의 공진주파수가 일치하지 않도록 분할된 접지 갭의 폭과 위치를 결정함으로써 방사성 방출을 줄일 수 있음을 보여준다. 또한, 스티칭 커패시터(Stitching capacitor)를 사용하여 방사성 방출을 저감시킬 수 있으며, 방사성 방출을 효과적으로 저감시키기 위해 입력 신호의 주파수에서 반사계수의 크기를 낮추고 위상이 $0^{circ}$에 근접하도록 스티칭 커패시터의 값과 위치를 결정할 필요가 있음을 알 수 있다.
In this paper, we analyzed radiated emission generated by the split power/ground plane structures in order to reduce EMI in system modules. The magnetic fields and electric fields were simulated and measured on the test boards under various conditions. In order to reduce radiated emission, we have to determine spacing and location of the split ground gap so that input signal frequency does not coincide with the resonance frequency of the split power/ground plane structure and the phase of reflection coefficient is close to $0^{circ}$ at input signal frequency. Moreover, we found that inserting a stitching capacitor could reduce the radiated emission. Low magnitude of reflection coefficient and the phase close to $0^{circ}$ are required to reduce radiated emission. It is necessary to properly decide value and location of a stitching capacitor to fulfil those requirements.
