- 위상 검출 방식 레이저 스캐너의 APD bias 전압 특성을 이용한 검출신호세기 제어 방법
- ㆍ 저자명
- 장준환,윤희선,황성의,박기환,Jang. Jun-Hwan,Yoon. Hee-Sun,Hwang. Sung-Ui,Park. Kyi-Hwan
- ㆍ 간행물명
- 한국정밀공학회지
- ㆍ 권/호정보
- 2012년|29권 10호|pp.1096-1100 (5 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국정밀공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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