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Goodness-of-fit test for the logistic distribution based on multiply type-II censored samples
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  • Goodness-of-fit test for the logistic distribution based on multiply type-II censored samples
  • Goodness-of-fit test for the logistic distribution based on multiply type-II censored samples
저자명
Kang. Suk-Bok,Han. Jun-Tae,Cho. Young-Seuk
간행물명
한국데이터정보과학회지
권/호정보
2014년|25권 1호|pp.195-209 (15 pages)
발행정보
한국데이터정보과학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

In this paper, we derive the estimators of the location parameter and the scale parameter in a logistic distribution based on multiply type-II censored samples by the approximate maximum likelihood estimation method. We use four modified empirical distribution function (EDF) types test for the logistic distribution based on multiply type-II censored samples using proposed approximate maximum likelihood estimators. We also propose the modified normalized sample Lorenz curve plot for the logistic distribution based on multiply type-II censored samples. For each test, Monte Carlo techniques are used to generate the critical values. The powers of these tests are also investigated under several alternative distributions.