전압 조절형 저항을 이용한 집적회로형 초정밀 보정용 브릿지 회로를 제안한다. 외부 변화에 대한 브릿지 회로의 4개의 저항비 변화를 전압 또는 전류로 출력해주는 계측기로서의 특성을 활용한다. CMOS를 이용한 전압 조절형 저항 회로를 제안하고 외부 입력전압에 의하여 저항치를 세밀하게 보 정함으로써 브릿지 회로의 정밀도를 향상할 수 있다. 50㏀ 저항의 0.0001% 변화에는 저항 회로의 입 력전압이 약 ±1㎶로서 보정 가능하다는 것을 확인하였으며, 또한 전압 조절형 저항과 브릿지 회로의 특성을 활용하여 아주 미세한 신호의 크기를 정밀하게 비교 측정하여 판별할 수 있는 회로를 설계하 여 그 기능을 시뮬레이션을 통하여 검증하였다.
In this paper, a well-known bridge-circuit design for high-precision calibration using voltage controlled resistors is newly proposed. This circuit utilizes a valanced resistor ratio characteristic as a precision instrumental approach by controlling and tuning the resistance value of the resistors, that being replaced with passive resistors in a bridge circuit. Because the resistance of a resistor is controlled by an external voltage, the voltage value for balanced condition can be used to acquire the external or internal unbalanced condition. A 0.0001% change of a resistance on 50㏀ resistance generates approximately ±1㎶ change. It is verified through simulations that the proposed circuit using voltage controlled resistance in a bridge circuit can detect a difference of a ppm-level that is significantly low.
1. 서론 2. 본론 3. 결론 References
