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The Liability of the Operator for Damage to Third Parties on the Surface Caused by Aircraft
이강빈, Lee. Kang-Bin 한국항공우주법학회 航空宇宙法學會誌 31 Pages
한국항공우주법학회 航空宇宙法學會誌 2006, Vol.21 No.1 65-95 (31 pages)
항공기에 의하여 발생된 지상의 손해에 대한 책임이 국제적 수준으로 규정되어야 함은 필수적이다. 그러나 1952년의 "외국항공기에 의하여 발생된 지상 제3자의 손해에 관한 로마협약" 및 1978년의 "몬트리올 의정서"는 소수의 국가들이 그것을 비준하였기 때문에 전세계적으로 중요한 영향을 가지지 못하였다. 그리하여 세계민간항공기구 사무국은 2002년에 로마협약의 현대화를 위한 협약초안을 작성하였으며, 특별그룹은 현재까지 협약초안을 검토해오고 있다. 한편 협약초안은 항공기 운항자의 책임체제와 지상... -
CMOS 소자를 위한 NiSi의 Surface Damage 의존성
지희환, 안순의, 배미숙, 이헌진, 오순영, 이희덕, 왕진석 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 6 Pages
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 2003, Vol.16 No.4 280-285 (6 pages)
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Damage on the Surface of Zinc Oxide Thin Films Etched in Cl-based Gas Chemistry
Woo. Jong-Chang, Ha. Tae-Kyung, Li. Chen, Kim. Seung-Han, Park. Jung-Soo, Heo. Kyung-Mu, Kim. Chang-Il 한국전기전자재료학회 Transactions on electrical and electronic materials 5 Pages
한국전기전자재료학회 Transactions on electrical and electronic materials 2011, Vol.12 No.2 51-55 (5 pages)
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INVESTIGATION AND REDUCTION OF DAMAGE AND CONTAMINATION OF SILICON SURFACE IN HIGHLY SELECTIVE OXIDE ETCH PROCESSES
Kim. H.S., Nam. W.J., Park. H.H., Yoon. J.G., Whang. K.W., Yeom. G.Y. 한국재료학회 Fabrication and Characterization of Advanced Materials 6 Pages
한국재료학회 Fabrication and Characterization of Advanced Materials 1995, Vol.2 755-760 (6 pages)
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Study on Surface Damage of Specimen for Transmission Electron Microscopy(TEM) Using Focused Ion Beam(FIB)
김동식, Kim. Dong-Sik 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the institute of electronics engineers of Korea. IE. 산업전자 5 Pages
대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the institute of electronics engineers of Korea. IE. 산업전자 2010, Vol.47 No.2 8-12 (5 pages)
TEM(Transmission Electrion microsopy) 투과전자현미경은 재료의 기초 구조 분석과 반도체 또는 생물시편의 미세 구조분석에 널리 사용되는 장비이다. TEM 분석은 필수적으로 목적에 부합되는 적절한 시편제작이 수반되어야 한다. 다양한 전자 현미경 시편 제작 방법 중 본 논문에서는 FIB(Focus Ion Beam)를 이용한 시편 제작법 중 시편에 입사되는 에너지와 이온 Gun과 시편과의 상호 각도, 이온 밀링 깊이 조절 등의 실험을 통하여 표면 손상 최소화를 벌크 웨이퍼와 패턴화된 시편에서 실험하였다. 최소화된 표면 영향성(약 5nm)을...